4xc-w ကွန်ပျူတာ metalleogleogrophic microscope ခြုံငုံသုံးသပ်ချက်
4xc-w ကွန်ပျူတာ metallurgical mical-w complatural microscope သည် trinocular inverted metallurgical microscope တစ်ခုဖြစ်ပြီးကောင်းမွန်သော focal length အစီအစဉ် Achromatic Lens နှင့် View Plan Eyepiece ၏ကြီးမားသောနယ်ပယ်တစ်ခုတပ်ဆင်ထားသည်။ ထုတ်ကုန်သည်ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံ, အဆင်ပြေပြီးသက်တောင့်သက်သာရှိနေသည်။ ၎င်းသည် metallophic ဖွဲ့စည်းပုံနှင့်မျက်နှာပြင် shape သုက်ပိုးပုံသဏ္ဌာန်နှင့်မျက်နှာပြင် shape သုက်ပိုးပုံသဏ္ဌာန်ပြိုင်ပွဲများအတွက်ဏုကြည့်ရှုခြင်းအတွက်သင့်တော်ပြီးသတ္တုဗေဒ,
လေ့လာရေးစနစ်
Hinged လေ့လာရေးပြွန် - မှန်ဘီလူးစောင့်ကြည့်လေ့လာရေးပြွန်, ချိန်ညှိနိုင်သောဗျာဒိတ်ရူပါရုံ, ကင်မရာကိရိယာနှင့်ချိတ်ဆက်နိုင်သော trinocular ကြည့်ရှုခြင်းပြွန်။ Eyepiece: WF10x ကြီးမားသောကွင်းဆင်းအစီအစဉ် Eyepiece သည်ကျယ်ပြန့်သောရှုထောင့်အကွာအဝေးအကွာအဝေးတစ်ခုဖြစ်ပြီးကျယ်ပြန့်သောလေ့လာရေးနေရာကိုထောက်ပံ့ပေးသည်။
စက်မှုဇာတ်စင်
စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရွေ့လျားမှုအဆင့်တွင် built-in rotatable circular state plate ရှိပြီး polarized light microscopy ၏လိုအပ်ချက်များကိုဖြည့်ဆည်းရန် Polarized Light One လေ့လာရေးအခမ်းအနားတွင်မြို့ပတ်ရထားပန်းကန်များကိုလှည့်ထားသည်။
အလင်းရောင်စနစ်
kola illumination method ကို သုံး. aperture မြှားနှင့် Field BiPragm နှင့် Field အမြှေးများကိုချိန်ညှိနိုင်သည်, ညှိနှိုင်းမှုသည်ချောမွေ့ပြီးအဆင်ပြေပါသည်။ ရွေးချယ်နိုင်သော polarizer သည်မတူကွဲပြားသော polarization တိုင်းဒေသကြီးများအောက်တွင်ဏုရှင်းသောပုံရိပ်များကိုလေ့လာရန် Polarize Angle ကို 90 °ချိန်ညှိနိုင်သည်။
အသေးစိတ်အချက်အလက်
| အသေးစိတ်အချက်အလက် | ပုံစံ | |
| အချက် | အသေးစိတ် | 4xc-w |
| optical system | အကန့်အသတ် aberration ပြင်ဆင်ချက် optical system ကို | · |
| လေ့လာရေးပြွန် | binocular tube, 30 °စောင်း။ trinocular ပြွန်, ချိန်ညှိ interpupillary အကွာအဝေးနှင့် diopter ။ | · |
| မျက်မှန် (မြင်ကွင်းကျယ်) | wf10x (φ18mm) | · |
| wf16x (φ11mm) | O | |
| WF10X (φ18mm) Crossc ဌာနခွဲအုပ်ဘုရင်နှင့်အတူ | O | |
| စံရည်မှန်းချက်မှန်ဘီလူး(ရှည်လျားသောပစ်အစီအစဉ် Achromatic ရည်ရွယ်ချက်များ) | PL L ကို 10x / 0.25 wd8.90mm | · |
| PL L 20x / 0.40 wd3.75mm | · | |
| pl l 40x / 0.65 wd2.69mm | · | |
| SP 100x / 0.90 wd0.44mm | · | |
| optional ကိုရည်မှန်းချက်မှန်ဘီလူး(ရှည်လျားသောပစ်အစီအစဉ် Achromatic ရည်ရွယ်ချက်များ) | pl l50x / 0.70 wd2.02mm | O |
| pl l 60x / 0.75 wd1.34mm | O | |
| pl l 80x / 0.80 wd0.96mm | O | |
| pl l 100x / 0.85 wd0.4mm | O | |
| အထဲသို့ | လေးတွင်း converterter positioning ဘောလုံးအတွင်းပိုင်း | · |
| ငါးတွင်း converter ကို positioning ဘောလုံးအတွင်းပိုင်း | O | |
| အာရုံစူးစိုက်ယန္တရား | coaxial အာရုံစူးစိုက်မှုကိုကြမ်းနှင့်ဒဏ်ငွေလှုပ်ရှားမှုအားဖြင့်ကောင်းသောညှိနှိုင်းမှုတန်ဖိုး - 0.002mm; လေဖြတ်ခြင်း (စင်မြင့်မျက်နှာပြင်၏အာရုံမှ) - 30mm ။ ကြမ်းတမ်းသောလှုပ်ရှားမှုနှင့်တင်းမာမှုများကိုပိတ်ခြင်းနှင့်စက်ကိရိယာများကိုကန့်သတ်ခြင်းနှင့်အတူ | · |
| စင် | Double-layer စက်ပစ္စည်းအမျိုးအစား (အရွယ်အစား - 180MMX150mm, ရွေ့လျားနေသည့်အကွာအဝေး - 15mmx15mm) | · |
| အလင်းရောင်စနစ် | 6v 20w halogen light, ချိန်ညှိတောက်ပမှု | · |
| Polarize ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ | Analyooze Group, Polarizer Group | O |
| အရောင် filter | အဝါရောင် filter, အစိမ်းရောင်စစ်ထုတ်ခြင်း, | · |
| metallephic analysis system ကို | JX2016Metallogleogledally ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း, 0.5x adapter မှန်ဘီလူး 0.5x adapter lens interface, Microme | · |
| PC | HP စီးပွားရေးကွန်ပျူတာ | O |
မှတ်ချက်: "· "Standard Configuration ဖြစ်ပါတယ်;"o "optional ကိုဖြစ်ပါတယ်
JX2016 metalledeogleographic ပုံခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာဆော့ဝဲခြုံငုံသုံးသပ်ချက်
"ပရော်ဖက်ရှင်နယ်သတ္တုဗေဒဆိုင်ရာရုပ်ပုံခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းကွန်ပျူတာ" configalogledleographic analis -sism နှင့် configression systems systems and endismise systems and conflict systems systems and time နှိုင်းယှဉ်ခြင်း, ရှာဖွေခြင်း, အဆင့်သတ်မှတ်ချက်, ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း, ဆော့ (ဖ်) ဝဲသည်ယနေ့အဆင့်မြင့်သောပုံရိပ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနည်းပညာကိုပေါင်းစပ်ထားသည့် metallophic microscope နှင့်အသိဉာဏ်ကိုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနည်းပညာကိုပေါင်းစပ်ထားသည်။ DL / DJ / ASTM, စသည်တို့) ။ စနစ်သည်တရုတ် interfaces များအားလုံးရှိပြီးရှင်းလင်းပြတ်သားပြီးလွယ်ကူစွာလုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းရှိသည်။ ရိုးရိုးရှင်းရှင်းလေ့ကျင့်သင်ကြားခြင်းသို့မဟုတ်ညွှန်ကြားချက်လက်စွဲကိုရည်ညွှန်းပြီးနောက်သင်ကလွတ်လပ်စွာလည်ပတ်နိုင်သည်။ ၎င်းသည် metallophic ဘုံသဘောမျိုးနှင့်လူကြိုက်များသောလုပ်ငန်းများကိုလေ့လာရန်အမြန်နည်းလမ်းတစ်ခုပေးသည်။
JX2016 metalledeogleographic ပုံခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာဆော့ဝဲလ်လုပ်ဆောင်ချက်များကို
image တည်းဖြတ်ဆော့ဗ်ဝဲ: ပုံရိပ်ဝယ်ယူခြင်းနှင့်ပုံသိုလှောင်ခြင်းစသည့်လုပ်ဆောင်ချက်ဆယ်ခုထက်ပိုသည်။
ပုံဆော့ဖ်ဝဲ: Image Enhancement, image overlay စသည့်လုပ်ဆောင်ချက်ဆယ်ခုထက်ပိုသည်။
ပုံတိုင်းတာခြင်း software ကို: ပတ် 0 န်းကျင်, area ရိယာနှင့်ရာခိုင်နှုန်းများကဲ့သို့သောတိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းဆောင်တာများစွာ,
output ကို mode ကို: Data Table output, histogram output, image print output ကို။
သီးသန့် metallophic software ကို
စပါးအရွယ်အစားတိုင်းတာခြင်းနှင့်အဆင့်သတ်မှတ်ချက် (အစေ့ထုတ်ယူခြင်း, အစွမ်းအစောက်ခြင်းပြန်လည်ထူထောင်ရေး, တစ်ခုတည်းသောအဆင့်,
Metallic Non-Movuldus များပါ 0 င်ခြင်းနှင့်အဆင့်သတ်မှတ်ခြင်း (ဆာလဖ်, အောက်ဆိုဒ်များ,
ပုလဲနှင့် ferrite အကြောင်းအရာတိုင်းတာခြင်းနှင့်အဆင့်သတ်မှတ်ချက်; သတ္တုဖိုက်ချွန်ရည်ကိုတိုင်းတာခြင်းနှင့်အဆင့်မြှင့်ခြင်း,
Decarburization Layer, carburized layer တိုင်းတာခြင်း, မျက်နှာပြင်အုတ်မြစ်အထူတန်းတိုင်းတာခြင်း;
WELD DEPTH အတိုင်းအတာ;
Ferritic နှင့် AustAnitic သံမဏိများကိုအဆင့်တိုင်းတာခြင်း,
Primary Silicon နှင့် Eutectic Silicon Aluminum Aluminum Aluminum Aluminum Aluminum Aluminum Aluminum အလွိုင်း၏မူလဆီလီကွန်နှင့် eutectic ဆီလီကွန်တို့၏ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း,
Titanium Alloyted Templeysis ... စသည်တို့,
နှိုင်းယှဉ်မှုနှင့်နှိုင်းယှဉ်လျှင်ပေါင်းစပ်ခြင်းနှင့်စစ်ဆေးခြင်း၏လိုအပ်ချက်များကိုဖြည့်ဆည်းရန်အတွက်များသောအားဖြင့်အသုံးပြုထားသောသတ္တုပစ္စည်းများ 600 နီးပါးရှိသောသတ္တုပစ္စည်း 600 နီးပါးရှိသောသတ္တုပြားများပါ 0 င်သည်။
ပစ္စည်းအသစ်များတိုးများလာခြင်းနှင့်ဆော့ဖ်ဝဲထဲ၌ထည့်သွင်းခြင်းမရှိသောပစ္စည်းများနှင့်အကဲဖြတ်မှုစံချိန်စံညွှန်းများအကြောင်းကြည့်ရှုခြင်းနှင့်ဆော့ဖ်ဝဲတွင်ထည့်သွင်းခြင်းမရှိသေးသောပစ္စည်းများနှင့်အကဲဖြတ်စံချိန်စံညွှန်းများအပေါ်စဉ်ဆက်မပြတ်တိုးပွားလာခြင်းကြောင့်စိတ်ကြိုက်ပြုလုပ်နိုင်သည်။
JX2016 metalledeographic image analysis ဆော့ဖ်ဝဲစစ်ဆင်ရေးခြေလှမ်းများ
1 ။ module ရွေးချယ်ခြင်း
2 ။ ဟာ့ဒ်ဝဲ Parameter ရွေးချယ်မှု
3 ။ ပုံရိပ်ဝယ်ယူမှု
4 ။ ကြည့်ရှုရန်နေရာချထား
5 ။ အဆင့်သတ်မှတ်ချက်အဆင့်
6 ။ အစီရင်ခံစာများထုတ်ပေး
