1. Optical metallographic microscope နှင့် atomic force microscope တို့၏ ပေါင်းစပ်ဒီဇိုင်း၊ အားကောင်းသော လုပ်ဆောင်ချက်များ

2. ၎င်းတွင် optical microscope နှင့် atomic force microscope ပုံရိပ်ဖော်ခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များ နှစ်ခုလုံးသည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု မထိခိုက်စေဘဲ တစ်ချိန်တည်းတွင် လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။

3. တချိန်တည်းမှာပင်၊ ၎င်းတွင် optical two-dimensional measurement နှင့် atomic force microscope သုံးဖက်မြင် တိုင်းတာခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များပါရှိသည်။

4. လေဆာထောက်လှမ်းမှုဦးခေါင်းနှင့်နမူနာစကင်န်ဖတ်ခြင်းအဆင့်ကိုပေါင်းစပ်ထားသည်၊ ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံသည်အလွန်တည်ငြိမ်သည်၊ အနှောင့်အယှက်ဆန့်ကျင်မှုအားကောင်းသည်

5. တိကျသောစုံစမ်းထောက်လှမ်းမှုတည်နေရာပြကိရိယာ၊ လေဆာအစက်အပြောက် ချိန်ညှိမှု ချိန်ညှိမှုသည် အလွန်လွယ်ကူသည်။

6. ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်း ဒရိုက်ဗ်နမူနာသည် ပရောဖက်ကို ဒေါင်လိုက်အလိုလို ချဉ်းကပ်လာသောကြောင့် အပ်၏အစွန်အဖျားကို နမူနာနှင့် ထောင့်ညီစွာ စကင်န်ဖတ်နိုင်စေရန်၊

7. မော်တာ-ထိန်းချုပ်ထားသော ဖိအား piezoelectric ကြွေထည် အလိုအလျောက် ထောက်လှမ်းမှု၏ အသိဉာဏ်ရှိသော ဆေးထိုးအပ် ကျွေးသည့်နည်းလမ်းသည် ပလေယာနှင့် နမူနာကို ကာကွယ်ပေးသည်။

8. probe နှင့်နမူနာစကင်န်ဖတ်ဧရိယာ၏တိကျသောတည်နေရာကိုရရှိရန်အလွန်မြင့်မားသောချဲ့ထွင်မှု optical တည်နေရာပြစနစ်

9. ပေါင်းစပ်ထားသော စကင်နာသည် လိုင်းမဟုတ်သော အမှားပြင်ဆင်မှု အသုံးပြုသူ တည်းဖြတ်မှု၊ နာနိုမီတာ အသွင်အပြင်နှင့် တိုင်းတာမှု တိကျမှု 98% ထက် ပိုကောင်းသည်

သတ်မှတ်ချက်များ-