1. Optical metallographic microscope နှင့် atomic force microscope တို့၏ ပေါင်းစပ်ဒီဇိုင်း၊ အားကောင်းသော လုပ်ဆောင်ချက်များ

2. ၎င်းတွင် optical microscope နှင့် atomic force microscope ပုံရိပ်ဖော်ခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များ နှစ်ခုလုံးသည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု မထိခိုက်စေဘဲ တစ်ချိန်တည်းတွင် လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။

3. သာမန်လေထုပတ်ဝန်းကျင်၊ အရည်ပတ်ဝန်းကျင်၊ အပူချိန်ထိန်းချုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်နှင့် inert gas control ပတ်ဝန်းကျင်တွင် တစ်ချိန်တည်းတွင် အလုပ်လုပ်နိုင်သည်။

4. နမူနာစကင်ဖတ်စစ်ဆေးခြင်းစားပွဲနှင့် လေဆာရှာဖွေခြင်းဦးခေါင်းအား အပိတ်အမျိုးအစားဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားပြီး အလုံပိတ်အဖုံးမထည့်ဘဲ အတွင်းတွင် အထူးဓာတ်ငွေ့များဖြည့်သွင်းနိုင်ပြီး စွန့်ထုတ်နိုင်သည်။

5. လေဆာ ထောက်လှမ်းမှု သည် ဒေါင်လိုက် အလင်းလမ်းကြောင်း ဒီဇိုင်းကို လက်ခံပြီး အရည် အောက်တွင် ဓာတ်ငွေ့-အရည် နှစ်မျိုးသုံး ပရောဖက် ကိုင်ဆောင်ထား သည့် အရည်အောက်တွင် အလုပ်လုပ်နိုင်သည်။

6. ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်း ဒရိုက်ဗ်နမူနာသည် ပရောဖက်ကို ဒေါင်လိုက်အလိုလို ချဉ်းကပ်လာသောကြောင့် အပ်၏အစွန်အဖျားကို နမူနာနှင့် ထောင့်ညီစွာ စကင်န်ဖတ်နိုင်စေရန်၊

7. မော်တာ-ထိန်းချုပ်ထားသော ဖိအား piezoelectric ကြွေထည် အလိုအလျောက် ထောက်လှမ်းမှု၏ အသိဉာဏ်ရှိသော ဆေးထိုးအပ် ကျွေးသည့်နည်းလမ်းသည် ပလေယာနှင့် နမူနာကို ကာကွယ်ပေးသည်။

8. probe နှင့်နမူနာစကင်န်ဖတ်ဧရိယာ၏တိကျသောတည်နေရာကိုရရှိရန်အလွန်မြင့်မားသောချဲ့ထွင်မှု optical တည်နေရာပြစနစ်

9. ပေါင်းစပ်ထားသော စကင်နာသည် လိုင်းမဟုတ်သော အမှားပြင်ဆင်မှု အသုံးပြုသူ တည်းဖြတ်မှု၊ နာနိုမီတာ အသွင်အပြင်နှင့် တိုင်းတာမှု တိကျမှု 98% ထက် ပိုကောင်းသည်

သတ်မှတ်ချက်များ-